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![]() ◆在封装或主动温度控制之前简化了激光二极管LIV测试 ◆芯片(chip)或棒料(bar) 阶段的激光二极管LIV生产测试的综合解决方案 ◆可通过编程将扫描(sweep)停在光功率极限上 ◆针对脉冲与DC测试的高精度源与测量性能的完美结合 ◆基于同步DSP的测量通道确保了高精度的光强度与电压测量 ◆脉宽从 500ns~5ms,占空比可达4%的可编程脉冲 ◆脉冲模式电流可达5A,直流模式可达1A ◆三个测量通道14位的测量精度(VF、前光电二极管、后光电二极管) ◆ 测量算法增强了脉冲测量的信噪比 ◆缓冲存储器高达1000点的扫描存储能力,消除了测试过程的GPIB流量,增大了测试产能 ◆数字I/O binning与handling操作 ◆IEEE-488 与 RS-232 接口 [详细介绍] |